X熒光光譜礦石分析儀
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産品信息


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産品名稱:X熒光光譜礦石分析儀
産品型号:EDX3600K
生産廠商:江蘇天瑞儀器股份有限公司
産品數量:200
産品單價:電議

産品介紹



X熒光光譜儀屬于的分析檢測儀器,随着半導體微電子技術和計算機技術的飛速發展,傳統的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術都已從經典的化學精密機械電子學結構、實驗室内人工操作應用模式,轉化成光、機、電、算(計算機)一體化、自動化的結構,并向智能化、小型化、在線式及儀器聯用方向發展。天瑞公司在以已掌握的成熟的台式X熒光光譜儀技術為基礎,結合國外相關的技術發展成果,研制出具有自主知識産權的EDX 3600K型X熒光光譜儀。

EDX 3600K X熒光光譜儀的亮點在于它大铍窗超薄口的高分辨SDD探測器和自旋式的樣品腔,産品通過了江蘇省計量科學研究院的檢測,并通過中國儀器儀表學會分析儀器分會組織的科技成果鑒定,技術達到國際水平。

詳細資料



性能優勢:

1.超低能量分辨率,輕元素檢測效果更佳
使用大面積铍窗電緻冷SDD探測器,探測器分辨率低達到139eV,各項指标優于标準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高,檢出限更低
①化的樣品腔設計,帶可調速的自旋樣品腔,能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響,提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設計,保證測試時達到10Pa以下,使設備的測試範圍可從F元素起測試,大大地提高測試範圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快,從第1秒即可得到定性定量結果
采用自主研發的數字多道技術,其線性計數率可達100kcps,可以更加快速的分析,從第1秒就可以得出定性定量結果,
設計成高計數率,大大提高了設備的穩定性。

4. 一鍵式智能化操作
軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,使操作簡易,對操作人員限制小的特點。

5. 強大的自動化功能
①自動化程度高,具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動穩譜裝置,保證了儀器工作的一緻性:利用解譜技術使譜峰分解,采用多參數的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應得到明顯的降低。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設置和無限數目模式的自由添加,内置強度校正方法,可校正幾何狀态不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路系統
自主研發的光路系統,光程更短,光路損失更少,激發效果更佳。

8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能,自動感應,沒有樣品時儀器不工作,無射線洩漏;加厚防護測試壁;配送測試防護安全罩。

9. 安全警示系統
警告指示系統,通電時綠色指示燈亮,測試時黃色輻射指示燈閃爍,防止誤操作。

儀器配置:

铍窗電制冷SDD探測器
自旋式樣品腔
高效超薄窗X光管
信噪比增強器SNE
超近光路增強系統
可自動開啟的測試蓋
自動切換型準直器和濾光片
真空腔體
自動穩譜裝置
90mm×70mm的液晶屏
的數字多道技術
多變量非線性回歸程序
相互獨立的基體效應校正模型

技術參數:

型号:EDX3600K
X射線源:50KV、1mA
樣品腔體積:Φ40.5mm×39.5mm
分析方法:能量色散X熒光分析方法
測量元素範圍:原子序數為9~92[氟(F)到鈾(U)]之間的元素均可測量
檢測元素:同時分析元素達三十多種,可根據客戶需要增加元素
含量範圍:ppm~99.99%
檢測時間:10秒以上
檢測對象:标準粉未壓片及可以放入标準樣品杯的固體、液體及粉末
探測器及分辨率:超大超薄的SDD探測器,分辨率 為144±5eV,可選配極速探測器低至125eV
激發源:铑靶或鎢靶光管根據客戶需求可供選擇
攝像頭:高清攝像頭
測井環境:超真空系統,10秒可抽到10Pa以下,大氣、氦氣均可以
準直器和濾光片:四組準直器(7、5、3、1mm),6種濾光片組合自動切換
自旋裝置:可調速的自旋裝置
檢出限:對樣品中的大多數元素來說,低檢出限達5~500ppm
真空系統:超真空系統,10秒可到10Pa
數據傳輸:數字多道技術,快速分析,高計數率
測試台:360°電動旋轉式
保護系統:樣品腔為電動控制,上蓋打開時測試已完成
樣品放置:的樣品杯設計,自帶壓環,可防止樣品晃動
數字多道技術:計數率>50kcps,有效計數率高至500kcps
外形尺寸及重量:669mm×540mm×874mm,90KG
操作環境濕度:≤90%
操作環境溫度:15℃~30℃

軟件優勢:

采用公司的能譜EDXRF軟件,的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作,操作簡易,對操作人員限制小的特點。
具有多種測試模式設置和無限數目模式自由添加,内置強度校正方法,可校正幾何狀态不同和結構密度不均勻的樣品造成的偏差。
全新的軟件界面和内核,采用FP和EC軟件組合的方法,應用面更加廣泛。

應用領域:

專為粉未冶煉行業研發的一款高端設備,主要應用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業、石油勘探錄井分析領域。
同時在地質、礦樣、冶金、稀土材料、環境監測、有色金屬、食品、農業等科研院所、大專院校和工礦企業中也得到廣泛應用。

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